產(chǎn)品中心
|
二極管芯片高低溫測試設(shè)備需通過專用設(shè)備模擬惡劣溫度環(huán)境，驗證其在-70℃至+200℃范圍內(nèi)的性能穩(wěn)定性、可靠性及失效模式。以下從設(shè)備類型、關(guān)鍵參數(shù)、應(yīng)用場景及選型建議
更新時間:2025-08-08共 1 條記錄，當前 1 / 1 頁 首頁 上一頁 下一頁 末頁 跳轉(zhuǎn)到第頁
|
|
二極管芯片高低溫測試設(shè)備需通過專用設(shè)備模擬惡劣溫度環(huán)境，驗證其在-70℃至+200℃范圍內(nèi)的性能穩(wěn)定性、可靠性及失效模式。以下從設(shè)備類型、關(guān)鍵參數(shù)、應(yīng)用場景及選型建議
更新時間:2025-08-08
地址：東莞市常平鎮(zhèn)萬布路53號千洪產(chǎn)業(yè)園
郵箱：apkjcss@foxmail.com 郵編：523586
備案號：粵ICP備14102013號
技術(shù)支持：儀表網(wǎng)
二極管芯片高低溫測試設(shè)備廠家為您提供優(yōu)質(zhì)的二極管芯片高低溫測試設(shè)備，歡迎來電咨詢二極管芯片高低溫測試設(shè)備價格